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X-RAY膜厚仪

更新时间:2023-11-26

简要描述:

韩国微先锋X-RAY膜厚仪
快速无损检测电子电镀层厚度:
可测单镀层,双镀层,及多镀层。
不限底材。

X-RAY膜厚仪原理:X射线或粒子射线经物质照射后

由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态

此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理

就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。

  

产地:韩国

品牌:MicroPioneer
型号:XRF-2020H / XRF-2020L / XRF-2020PCB


H型测量样品高10CM,长宽55cm

L型测量样品高3CM,长宽55cm
三款机型均为全自动台面,自动雷射对焦。


XRF-2020应用:

1、检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度;
2、可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度;
3、单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等;
4、双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等;
5、多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等;
6、合金镀层:铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等;


韩国XRF-2020三款机型均为全自动,自动雷射对焦

韩国MicroP XRF-2020

X-RAY膜厚仪,电镀层测厚仪,电镀膜厚测量仪


通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚

如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

可测单层,双层,多层,合金镀层



 

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