X-RAY膜厚仪

 X-RAY膜厚仪原理X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析

XRF-2020镀层测厚仪

产地：韩国

品牌：Micro Pioneer 

型号：

XRF-2020H 

XRF-2020L

XRF-2020PCB

H型测量样品高12CM,长宽55cm

L型测量样品高3CM,长宽55cm

三款机型均为全自动台面，自动雷射对焦。

X-RAY电镀测厚仪XRF-2020应用：

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等?

合金镀层：铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020三款机型均为全自动，自动雷射对焦。