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铁上镀锌镍X射线测厚仪

更新时间:2020-04-22

简要描述:

铁上镀锌镍X射线测厚仪
韩国先锋XRF-2020
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
膜厚测试仪韩国微先锋XRF-2020

铁上镀锌镍X射线测厚仪:镀层检测范围0.5-25um

 

 

标牌:Micro Pioneer  微先锋

货号:XRF-2020H,XRF-2020L,XRF-PCB三款

 

 

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

 

 

 应用:

电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层:

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

测试精度:

一层:±5%以内

二层:±8%以内

三层:±15%以内

检测范围:

镀金:0.03-6um

镀钯:0.03-6um

镀镍:0.5-30um

镀锡:0.3-50um

镀银:0.1-50um

镀铬:0.5-30um

镀锌:0.5-30um

镀锌镍合金:0.5-30um

 

韩国微先锋XRF-2020应用检测镀层厚度

可测单双镀层及合金镀层

适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。

可测金,镍,铜,锌,锡,银,锌镍合金等镀层。

应用广泛,适应电镀生产企业,产品来料检测等。

 

 铁上镀锌镍X射线测厚仪:镀层检测范围0.5-25um

 

  

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