X-RAY无损膜厚仪韩国微先锋测厚仪

更新时间：2024-11-05

简要描述：

X-RAY无损膜厚仪韩国微先锋测厚仪检测电子电镀层厚度，可测镀铜,镀镍.镀锡,镀锌,镀铬,镀银,镀金,镀锌镍合金等，仪器全自动，自动雷射对焦。

　　X-RAY无损膜厚仪韩国微先锋测厚仪

　　韩国Micro PioneerXRF-2020镀层测厚仪

　　可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层，不限底材。

　　XRF-2020镀层测厚仪测试范围

　　（1）镀金：0.02-6um

　　（2）镀钯：0.03-6um

　　（3）镀镍：0.5-30um

　　（4）镀锡：0.3-50um

　　（5）镀银：0.1-50um

　　（6）镀铬：0.5-30um

　　（7）镀锌：0.5-30um

　　（8）镀锌镍合金：0.5-30um

　　应用：韩国先锋膜厚仪检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

　　XRF-2020H镀层测厚仪：测量产品高于12cm内均可

　　检测电子电镀层厚度

　　可测镀铜,镀镍.镀锡,镀锌,镀铬,镀银,镀金,镀锌镍合金等

　　韩国MicroPioneer型号：

　　（1）XRF-2020H型:测量样品高度不超过12cm

　　（2）XRF-2020L型:测量样品高度不超过3cm

　　（3）XRF-2020PCB型:测量样品高度不超3cm

　　韩国先锋膜厚仪功能

　　（1）检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架等电镀层厚度。

　　（2）测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

　　（3）可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

　　（4）XRF-2020镀层测厚仪三款机型均为全自动台面，自动雷射对焦。

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