更新时间:2024-11-03
X射线金属镀层测厚仪X-RAY膜厚仪检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度快速无损检测电子电镀层厚度
X射线金属镀层测厚仪X-RAY膜厚仪
原理及应用
X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变
根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。
理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。
XRF-2020镀层测厚仪:
别称:X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、X-RAY膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能:精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围:测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。
仪器特点:
全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
功能及应用:
检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层:
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
仪器测量精度:
表层:±5%以内,第二层:±10%以内,第三层:±15%以内
XRF-2020镀层测厚仪规格型号如下图
X射线金属镀层测厚仪X-RAY膜厚仪
X射线膜厚仪XRF-2020系列
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。
测量镀层等金属薄膜的厚度
因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。
同时,测量也可以在30秒内完成