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X-RAY膜厚测试仪

更新时间:2021-10-21

简要描述:

X-RAY膜厚测试仪检测电子电镀,金属镀层测厚仪层厚度,可测镀铜,镀镍.镀锡,镀锌,镀铬,镀银,镀金,镀锌镍合金等,仪器全自动,自动雷射对焦.

  X-RAY膜厚测试仪检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
  测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
  可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料
  单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
  双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
  多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等?合金镀层:
  铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
     X-RAY膜厚测试仪如下图:
规格如上图所示
  原产地:韩国
  品牌:Micropioneer微先锋
  型号:XRF-2020
  型号规格
  XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
  XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg
  XRF-2020镀层测厚仪三款机型均为全自动台面,自动雷射对焦。

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