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铜镀镍镀锡膜厚仪双层X-RAY测厚仪

更新时间:2021-07-06

简要描述:

铜镀镍镀锡膜厚仪双层X-RAY测厚仪
韩国XRF-2020/XRF-2000系列
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
快速无损检测电子电镀层厚度
铜上镀锡测量范围:0.5-50um
铜上镀镀银测范围:0.3-50um
镀镍测量范围:0.5-30um

铜镀镍镀锡膜厚仪双层X-RAY测厚仪

 

韩国XRF-2020镀层测厚仪

 

整机韩国进口,仪器全系均为全自动台,自动雷射对焦!

多点自动测量

 

系列型号:XRF-2020​/XRF-2000

规格如下图

 

膜厚测试机韩国XRF-2020镀层测厚仪详细资料

 

适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。

可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。

应用广泛,适应电镀生产企业,产品来料检测等。

 

仪器特点:

 

全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

 

功能及应用:

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层:

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

 

铜上镀锡测量范围:0.5-50um

铜上镀镀银测范围:0.3-50um

镀镍测量范围:0.5-25um

 

多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

铜镀镍镀锡膜厚仪双层X-RAY测厚仪

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