产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > X射线镀层测厚仪 > X-RAY测厚仪 > X射线镀层测厚仪XRF-2020

X射线镀层测厚仪XRF-2020

更新时间:2021-12-30

简要描述:

韩国MicroP XRF-2020膜厚仪
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
快速无损检测电子电镀层厚度
X射线镀层测厚仪XRF-2020


X射线镀层测厚仪XRF-2020原理


X射线或粒子射线经物质照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态

此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度

来进行镀层厚度的测量及分析.


韩国MicroP XRF-2020膜厚仪

1.png

637747639785402239461.jpg


韩国MicroP XRF-2020膜厚仪


功能应用:


检测电子电镀,五金电镀,PCB板,LED支架半导体连接器等电镀层厚度。

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料



X射线镀层测厚仪XRF-2020


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
深圳市精诚仪器仪表有限公司

深圳市精诚仪器仪表有限公司

地址:深圳市龙岗区坂田五和大道北元征科技园C218

©2022 公司版权所有:  备案号:  总访问量:42134  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆

QQ在线客服
联系方式

13761400826

13761400826