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韩国先锋XRF-2020L膜厚测试仪

更新时间:2022-02-21

简要描述:

韩国先锋XRF-2020L膜厚测试仪
型号:XRF-2020
功能:
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜等
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限基材。
X射线金镀层测厚仪,X-RAY膜厚测试仪

韩国先锋XRF-2020L膜厚测试仪

韩国先锋XRF-2020L膜厚测试仪


型号:XRF-2020

功能:


检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜等

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限基材。


X射线金镀层测厚仪,X-RAY膜厚测试仪



韩国先锋XRF-2020L膜厚测试仪


型号:XRF-2020


功能:

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜等

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限基材。


XRF-2020仪器操作流程

1. 仪器及附件均处开机状态(电脑,显示器)

2. 在程序库中选中与产品对应的曲线(产品需与曲线一致)

3.  打开仪器前盖,台面自动伸出

4.  将样品放入仪器台面,测量大致位置对准仪器红外对焦点

5.  关闭仪器前盖,仪器台面自动归位

6.  在显示器屏幕中用鼠标控制仪器台面微调,精确对准测试位置

7.  点击SART测试:

8.  测试过程中X-RAY指示灯亮红,此时严禁打开仪器前盖。

9.  测试时间15秒主窗口及数据表中显示测试产品厚度

10. X-RAY指示灯熄灭,打开仪器前盖,台面自动伸出

11. 取出样品,完成测试



X射线金镀层测厚仪,X-RAY膜厚测试仪

功能及原理:

X射线或粒子射线经物质照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态

从不稳定状态要回到稳定状态

此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度

来进行镀层厚度的测量及分析.



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