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X光镀层测厚仪XRF-2020L

更新时间:2022-03-19

简要描述:

X光镀层测厚仪XRF-2020L
型号:XRF-2020
功能:
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜等
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限基材。
XRF-2020测厚仪韩国微先锋操作流程

微先锋XRF-2020L电镀层测厚仪



X射线荧光测厚仪:提供镀层厚度测量,性能*,快速无损测量。

只需数秒钟便能非破坏性测量电镀层膜厚


测量:


单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层。

全自动样品室,适合不同大小的样品,功能实用

准确性高,广泛应用五金电镀,连接器,半导体端子等行业。




功能特点:


XRF-2002膜厚仪X射线荧光技术,该技术已经被证实并且得到广泛应用

可在建立测量曲线存储的情况下提供易于操作、快速和无损的电镀膜厚测量。

范围包括从元素周期表中的Ti 22到 U92

XRF-2020具有大小不同的样品舱。




产品功能:


1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材!

1. 镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金,铬,锌镍合金等。

2. 镀层层数:可测5层。

3. 测量产品位置尺寸:标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)

4. 测量时间:通常15秒。

5. H型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。

6  L型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。

7. 测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。

8. 可测厚度范围:通常0.01微米到60微米,视样品组成和镀层结构而定。


产品参数:


X射线光管 钨靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm


高电压 50千伏(1毫安)可根据软件控制优化

探测器 高分辨气体正比计数探测器

准直器 单一固定准直器直径0.2mm(可选或订制其他规格)

·全自样品台,自动雷射对焦




XRF-2020测厚仪韩国微先锋操作流程


1. 仪器及附件均处开机状态(电脑,显示器)

2. 在程序库中选中与产品对应的曲线(产品需与曲线一致)

3.  打开仪器前盖,台面自动伸出

4.  将样品放入仪器台面,测量大致位置对准仪器红外对焦点

5.  关闭仪器前盖,仪器台面自动归位

6.  在显示器屏幕中用鼠标控制仪器台面微调,精确对准测试位置

7.  点击SART测试:

8.  测试过程中X-RAY指示灯亮红,此时严禁打开仪器前盖。

9.  测试时间15秒主窗口及数据表中显示测试产品厚度

10. X-RAY指示灯熄灭,打开仪器前盖,台面自动伸出

11. 取出样品,完成测试


X光镀层测厚仪XRF-2020L功能及原理:


X射线或粒子射线经物质照射后

由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态

从不稳定状态要回到稳定状态

此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度

来进行镀层厚度的测量及分析.


XRF-2020L型,XRF-2020H型

功能:测量电镀镀层厚度

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜等

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限基材。


型号:XRF-2020

产地:韩国

X光镀层测厚仪XRF-2020L仪器全自台,自动雷对焦

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