先锋XRF-2020韩国测厚仪膜厚仪

先锋XRF-2020韩国测厚仪膜厚仪

原产地：韩国

品牌：微先锋Microp

系列型号：

XRF-2020L

XRF-2020H

XRF-2000型号均已更新为XRF-2020

应用：测量各类五金,电子连接器端子半导体等电镀层厚度。

可测金,镍,铜,锌,锡,银,铬,铑,铂,锌镍合金等镀层。

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。

适应电镀生产企业，产品来料检测半导体五金电镀等相关行业。

仪器

特点:

全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量

仪器全系均为全自动台，自动雷射对焦！

多点自动测量

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

韩国MicroP

XRF-2020镀层测厚仪功能应用：

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

XRF-2020测厚仪，电镀膜厚测试仪，X射线镀层测厚仪，X-RAY电镀膜厚仪，X荧光镀层测厚仪

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

韩国微先锋电镀测厚仪XRF-2020

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

工作方法：

通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚

测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

原理：

X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。

从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来

而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度

来进行定性和定量分析。

先锋XRF-2020韩国测厚仪膜厚仪