更新时间:2023-10-07
韩国MicroP XRF-2020膜厚仪检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度快速无损检测电子电镀层厚度XRF-2000L测厚仪X-RAY膜厚仪
XRF-2000L测厚仪X-RAY膜厚仪
原产地:韩国
品牌:微先锋Micropioneer
系列型号:
XRF-2020L
XRF-2020H
XRF-2000型号均已更新为XRF-2020
应用:测量各类五金,电子连接器端子半导体等电镀层厚度。
可测金,镍,铜,锌,锡,银,铬,铑,铂,锌镍合金等镀层。
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。
适应电镀生产企业,产品来料检测半导体五金电镀等相关行业。
仪器特点:
全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
仪器全系均为全自动台,自动雷射对焦!
多点自动测量
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
韩国MicroPioneer
XRF-2020测厚仪功能应用:
检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层:
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
韩国XRF-2020镀层测厚仪
韩国MicroP XRF-2020膜厚仪
功能应用:
检测电子电镀,五金电镀,PCB板,LED支架半导体连接器等电镀层厚度。
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料
电镀测厚仪深圳韩国XRF-2020膜厚仪
可测单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层
镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um
镀锡测量范围0.5-50um
镀金测量范围0.03-6um
镀锌测量范围1-30um
锌镍合金测量范围1-25um
镀铬测量范围0.5-25um
仪器规格
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
韩国先锋XRF-2020L型,H型(MicropXRF-2000,XRF-2020)
XRF-2000L测厚仪X-RAY膜厚仪