微先锋Micropioneer XRF-2000
一、X-RAY膜厚测试仪应用范围
1、可测单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层；
2、测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等；
二、工作原理
X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度来进行镀层厚度的测量及分析。
三、韩国XRF-2000L膜厚仪规格
四、韩国MicroP XRF-2020膜厚仪功能应用：1、检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架半导体连接器等电镀层厚度；
2、测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等；
3、可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料；
镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um
镀锡测量范围0.5-50um
镀金测量范围0.03-6um
镀锌测量范围1-30um
锌镍合金测量范围1-25um
镀铬测量范围0.5-25um
五、X-RAY膜厚测试仪规格
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
快速无损测量电镀层膜厚
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层！
发邮件给我们：fhx2030@163.com