X射线镀层测厚仪微先锋XRF-2000L膜厚仪
原产地：韩国
品牌：微先锋Micropioneer
系列型号：
XRF-2020L
XRF-2020H
一、应用：
1、测量各类五金，电子连接器端子半导体等电镀层厚度；
2、可测金，镍，铜，锌，锡，银，铬，铑，铂，锌镍合金等镀层；
3、可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等；
4、适应电镀生产企业，产品来料检测半导体五金电镀等相关行业；
二、镀金X射线测厚仪(X射线镀层测厚仪)特点：
1、全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量；
2、仪器全系均为全自动台，自动雷射对焦；
3、多点自动测量；
4、可配多个或单个准直器，准直器大小可自动切换；
三、XRF-2020测厚仪功能应用：
1、检测电子电镀，五金电镀，端子连接器，线路板，半导体等膜厚；
2、可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层，不限底材；
（1）单层：如各种底材上镀镍，镀锌，镀铜，镀银，镀锡，镀金等；
（2）双层：如铜上镀镍再镀金，铜上镀镍再镀银，铁上镀铜再镀镍等；
（3）多层：如ABS上镀铜镀镍再镀铬，铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层；
3、铁上镀锌镍，铜上镀镍磷等；
四、韩国MicroP XRF-2020膜厚仪功能应用：
1、检测电子电镀，五金电镀，PCB板，LED支架半导体连接器等电镀层厚度；
2、测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等；
3、可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料；
五、可测单镀层，双多镀层，多镀层及合金镀层
镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um
镀锡测量范围0.5-50um
镀金测量范围0.02-6um
镀锌测量范围1-30um
锌镍合金测量范围1-25um
镀铬测量范围0.5-25um
六、镀金X射线测厚仪(X射线镀层测厚仪)规格
XRF-2020L型：测量样品长宽55cm，高3cm：台面载重3kg；
XRF-2020H型：测量样品长宽55cm，高10cm：台载重5kg；
仪器全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量；
多个准直器可选择：0.1mm，0.2mm，0.3mm，0.4mm，0.03×0.5mm；
可配多个或单个准直器，准直器大小可自动切换。
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