更新时间:2024-04-09
韩国MicroP XRF-2020膜厚仪检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度快速无损检测电子电镀层厚度L型H型韩国先锋XRF-2020测厚仪
L型H型韩国先锋XRF-2020测厚仪
X-RAY膜厚测试仪韩国Microp 微先锋XRF-2020
可测单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
仪器规格如下图所示
韩国MicroP XRF-2020膜厚仪
功能应用:
检测电子电镀,五金电镀,PCB板,LED支架半导体连接器等电镀层厚度。
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料
镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um
镀锡测量范围0.5-50um
镀金测量范围0.03-6um
镀锌测量范围1-30um
锌镍合金测量范围1-25um
镀铬测量范围0.5-25um
L型H型韩国先锋XRF-2020测厚仪 规格如下
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
快速无损测量电镀层膜厚
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层!
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