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XRF-2020测厚仪X-RAY膜厚仪原理应用

更新时间:2024-07-22

简要描述:

韩国XRF-2020测厚仪
XRF-2020测厚仪X-RAY膜厚仪原理应用
快速无损检测电子电镀层厚度
可测单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层

XRF-2020测厚仪X-RAY膜厚仪原理应用机理:


覆盖层单位面积质量(底材需为已知,覆盖层线性厚度)

和二次辐射强度之间存在一定的关系。对于任何实际的仪器系统

该关系首先已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。

若覆盖层材料的密度已知,同时又给出实际的密度

则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。


荧光强度是元素原子序数的函数,如果表面覆盖层、中间覆盖层

如果存在)以及基体是由不同元素组成或一个覆盖层由不止一个元素组成

则这些元素会产生各自的辐射特征。

可调节适当的检测器系统以选择一个或多个能谱,

使此设备既能测量表面覆盖层又能同时测量表面覆盖层和一些中间覆盖层的厚度和组成。


X荧光镀层测厚仪测试报告:包括下列内容:


1.本标准的编号;

2.试样的准确标识;

3.测量日期;

4.试样上测量位置;

5.平均每份报告的测量次数;

6.尺寸不同,要标明准直器孔径和测量面积大小;

7.测量数值;

8. 用于X荧光厚度计算的密度值及使用理由;

9.报告的测量值具有代表性的标准偏差;

10.与本标准方法的差别:

11.可能影响报告结果解释的因素:

12.实验室名称和操作者姓名;

13.近期的校准证书或其他可接受的参考标准块的使用及溯源。

韩国MicroP XRF-2020膜厚仪

XRF-2020测厚仪X-RAY膜厚仪原理应用

检测电子电镀,五金电镀,PCB板,LED支架半导体连接器等电镀层厚度。

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等


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