X-RAY膜厚测试仪

更新时间：2024-11-05

简要描述：

X-RAY膜厚测试仪检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度;快速无损检测电子电镀层厚度。

　　一、X-RAY膜厚测试仪XRF-2000测厚仪检测范围

　　1、检测电子电镀，五金电镀，LED支架，端子连接器，半导体等电镀层厚度

　　2、X-RAY膜厚仪快速无损检测电子电镀层厚度(Micro pioneer XRF-2020/XRF-2000)

　　3、可测单镀层，双多镀层，多镀层及合金镀层

　　（1）镀银测量范围0.1-50um

　　（2）镀镍测量范围0.5-30um

　　（3）镀铜测量范围0.5-30um

　　（4）镀锡测量范围0.5-50um

　　（5）镀金测量范围0.02-6um

　　（6）镀锌测量范围1-30um

　　（7）锌镍合金测量范围1-25um

　　（8）镀铬测量范围0.5-25um

　　4、仪器全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量

　　5、多个准直器可选择：0.1mm，0.2mm，0.3mm，0.4mm，0.03×0.5mm

　　6、可配多个或单个准直器，准直器大小可自动切换

　　二、韩国先锋XRF-2020L型H型功能特点：

　　1、全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量；

　　2、仪器全系均为全自动台，自动雷射对焦；

　　3、多点自动测量；

　　4、可配多个或单个准直器，准直器大小可自动切换；

　　5、快速无损测量电镀层厚度，可测单镀层，双镀层，多层镀层及合金镀层。

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