一、XRF-2020电镀层测厚仪产品功能:
  1、采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材!
  1、镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金,铬,锌镍合金等。
  2、镀层层数:可测5层。
  3、测量产品位置尺寸:标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)
  4、测量时间:通常15秒。
  5、H型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。
  6  L型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。
  7、测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。
  8、可测厚度范围:通常0.01微米到60微米,视样品组成和镀层结构而定。
  二、产品参数:
  1、X射线光管:钨靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm
  2、高电压:50千伏(1毫安)可根据软件控制优化
  3、探测器:高分辨气体正比计数探测器
  4、准直器:单一固定准直器直径0.2mm(可选或订制其他规格)
  5、全自样品台,自动雷射对焦
  (Micro pioneer XRF-2020/XRF-2000)

 
       三、可测
  1、单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层
  (1)镀银测量范围0.1-50um
  (2)镀镍测量范围0.5-30um
  (3)镀铜测量范围0.5-30um
  (4)镀锡测量范围0.5-50um
  (5)镀金测量范围0.02-6um
  (6)镀锌测量范围1-30um
  (7)锌镍合金测量范围1-25um
  (8)镀铬测量范围0.5-25um
  2、仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
  3、多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
  4、可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换