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X-RAY膜厚测量仪XRF-2000L测厚仪

更新时间:2024-11-05

简要描述:

韩国先锋电镀测厚仪XRF-2000膜厚仪
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
快速无损检测电子电镀层厚度
X-RAY膜厚测量仪XRF-2000L测厚仪

X-RAY膜厚测量仪XRF-2000L测厚仪Micropioneer

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xrf-2020l测厚仪韩国微先锋膜厚仪


可测

单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层


镀银测量范围0.1-50um

镀镍测量范围0.5-30um

镀铜测量范围0.5-30um

镀锡测量范围0.5-50um

镀金测量范围0.02-6um

镀锌测量范围1-30um

锌镍合金测量范围1-25um

镀铬测量范围0.5-25um


仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换


韩国先锋XRF-2020L型H型

MicropXRF-2000,XRF-2020


韩国微先锋XRF测厚仪

X-RAY电镀膜厚测量仪

功能

特点:


全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

仪器全系均为全自动台,自动雷射对焦!

多点自动测量

XRF-2020测厚仪韩国微先锋膜厚仪Micropioneer

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

X-RAY膜厚测量仪XRF-2000L测厚仪快速无损测量电镀层厚度,可测单镀层,双镀层,多层镀层及合金镀层




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