更新时间:2024-11-25
韩国微先锋Micropioneer XRF-2000膜厚仪测厚仪检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器半导体等电镀层厚度快速无损检测电子电镀层厚度X-RAY膜厚测量仪韩国XRF-2020东莞测厚仪
X-RAY膜厚测量仪韩国XRF-2020东莞测厚仪
测量
各类五金,电子连接器端子半导体等电镀层厚度。
可测金,镍,铜,锌,锡,银,铬,铑,铂,锌镍合金等镀层。
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。
适应电镀生产企业
产品来料检测半导体五金电镀等相关行业。
X-RAY膜厚测量仪XRF-2020测厚仪
XRF电镀层测厚仪韩国微先锋膜厚仪
(Micro pioneer XRF-2020/XRF-2000)
可测
单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层
镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um
镀锡测量范围0.5-50um
镀金测量范围0.02-6um
镀锌测量范围1-30um
锌镍合金测量范围1-25um
镀铬测量范围0.5-25um
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
镀层测厚仪X-RAY膜厚仪先锋XRF-2020功能特点:
全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
仪器全系均为全自动台,自动雷射对焦!
多点自动测量
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可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
快速无损测量
电镀层厚度,可测单镀层,双镀层,多层镀层及合金镀层