更新时间：2025-02-25
韩国先锋电镀测厚仪XRF-2000膜厚仪检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度快速无损检测电子电镀层厚度X-RAY膜厚测量仪韩国XRF-2020测厚机
X-RAY膜厚测量仪韩国XRF-2020测厚机
测量金，镍，铜，银，锡，铬，锌，锌镍合金等电镀层膜厚
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
系列如图
（1）单镀层：Ag/xx | （2）合金镀层：Sn-Pb/xx | （3）双镀层：Au/Ni/xx | ||
Ag | Sn-Pb | Au | ||
底材 | 底材 | Ni | ||
底材 | ||||
（4）合金镀层：Sn-Bi/xx | （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx | （6）化学镀层：Ni-P/xx | ||
Sn-Bi | Au | Ni-P | ||
底材 | Pd | 底材 | ||
Ni | ||||
底材 |
（1）单镀层：Ag/xx | （2）合金镀层：Sn-Pb/xx | （3）双镀层：Au/Ni/xx | ||
Ag | Sn-Pb | Au | ||
底材 | 底材 | Ni | ||
底材 | ||||
（4）合金镀层：Sn-Bi/xx | （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx | （6）化学镀层：Ni-P/xx | ||
Sn-Bi | Au | Ni-P | ||
底材 | Pd | 底材 | ||
Ni | ||||
底材 |
X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析
X-RAY膜厚测量仪韩国XRF-2020测厚机
功能：检测电镀层厚度
测试各类电镀层:金,银,镍,铜,锡,锌,铬,锌镍合金等
发邮件给我们：fhx2030@163.com