更新时间：2025-04-09
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电镀测厚仪XRF-2020膜厚仪
韩国XRF-2020电镀层测厚仪
通过从样品上反射出来的第二次X射线强度来测量镀层等金属镀层的厚度。
金属镀层厚度的测量方法有多种，其中X射线荧光法是无接触无损测量
测量范围广，X射线法可测极薄单镀层、双镀层、合金镀层，且不受底材影响。
各种金属或塑胶电子零件,五金工件,端子连接器等在加工后为
防止生锈，或者美观，或功能 会对零件表面镀铜镍银锌锡及锌镍合金等电解镀层
但由于工艺或技术问题，会出现有的地方镀的厚一些，有的地方薄一些
这样就会导致零件镀层厚度需要一种测厚仪，这种仪器就是镀层测厚仪
测量原理：
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
韩国先锋电镀测厚仪
型号规格
如下图:
XRF-2020测厚仪韩国Micropioneer膜厚测量仪
产品功能：
1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材！
1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金，铬，锌镍合金等。
2. 镀层层数：可测5层。
3. 测量产品位置尺寸：标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)
4. 测量时间：通常15秒。
5. H型号机箱容纳样品尺寸：550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。
6 L型号机箱容纳样品尺寸：550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。
7. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。
8. 可测厚度范围：通常0.01微米到60微米
电镀测厚仪XRF-2020膜厚仪
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