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X射线镀层测厚仪

更新时间:2025-11-06

简要描述:

XRF-2000L X射线镀层测厚仪采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材!

一、XRF-2000L X射线镀层测厚仪型号规格如下图:
X射线镀层测厚仪XRF-2000L型
 

二、产品功能:
1、采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材!
1、镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金,铬,锌镍合金等。
2、镀层层数:可测5层。
3、测量产品位置尺寸:标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)
4、测量时间:通常15秒。
5、H型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。
6、L型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。
7、测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。
8、可测厚度范围:通常0.01微米到60微米
三、XRF-2020测厚仪X-RAY电镀膜厚测量仪功能
- 测量方法:通过CCD镜头观察样品仓;
- 电镀层膜厚,测量电镀层厚度;
- 测量金,镍,银,锡,锌,铜,锌镍合金等电镀层厚度;
- 单镀层,双镀层,多镀层,锌镍合金镀层均可以测量;
 

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