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X-RAY膜厚测试仪镀金镀镍镀锡镀银测厚仪

更新时间:2025-12-26

简要描述:

X-RAY膜厚测试仪镀金镀镍镀锡镀银测厚仪
MicroP XRF-2020测厚仪
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器
半导体等电镀层厚度
快速无损检测电子电镀层厚度

X-RAY膜厚测试仪镀金镀镍镀锡镀银测厚仪

MicroP XRF-2020测厚仪

先锋韩国电镀膜厚仪

测量电镀层厚度:金,镍,银,锡,锌,铜,锌镍合金等电镀层厚度

测量单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层:不限基材

全自动样品台,自动雷射对焦:多点自动测量


型号规格如下图:

XRF-2020L型号:测试样品高30mm,长宽550mm以内

XRF-2020H型号:测试样品高100mm,长宽550mm以内

X-RAY膜厚测试仪镀金镀镍镀锡镀银测厚仪

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MicroP XRF-2020测厚仪

产品功能:测量电镀层厚度

采用

X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材

方法:通过CCD镜头观察样品仓

快速无损测量电镀层膜厚,测量电镀层厚度:

测量金,镍,银,锡,锌,铜,锌镍合金等电镀层厚度

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