XRF-2020测厚仪X-RAY膜厚测试仪原理功能

XRF-2020测厚仪X-RAY膜厚测试仪原理功能

是一款用于电子、五金电镀行业的无损高精度膜厚检测设备，基于 XRF 原理实现快速、非接触的单 / 多镀层与合金层厚度分析。

测量镀金，镀银，镀镍，镀锡，镀锌，镀锌铬合金等

测量单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层，不限基材

行业应用

电子制造：PCB 板、连接器、端子、LED 支架、半导体封装的镀金 / 银 / 镍 / 锡 / 钯等镀层检测

五金电镀：汽车零部件、卫浴、紧固件的镀锌、锌镍合金、镀铬等

质量控制：来料检验、生产线在线抽检、出货批次检测

优势特点

高效无损：10–30 秒快速出结果，不损伤样品表面，适合批量抽检

多层能力强：轻松解析 Sn/Ni/Cu、Au/Ni/Cu 等复合结构，支持合金镀层成分关联分析

操作友好：软件界面直观，自动对焦 + CCD 可视化，新手易上手；数据可追溯、支持 SPC 统计

韩国原厂制造，稳定性与抗干扰性适合工业车间环境

XRF-2020测厚仪电镀膜厚仪原理功能

根据Ｘ射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的

即测量被测金属镀层所吸收的Ｘ射线量，根据该X射线的能量值

确定被测件的厚度。

由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大

再由专用测厚仪操作系统转换为显示出直观的实际厚度信号。

X射线源强度的大小，与X射线管的发射强度和被测物品所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的厚度，为了确定其所需的X射线能量值，可利用X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。

在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测物件中通过，被测物件将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收

探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。

如果改变被测物件的厚度。则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。

XRF-2020镀层测厚仪性能特点

由上往下照式

全自动测试台面

高精度移动平台

多个准直器

高分辨率探头

可视化操作  全自动定位移动平台，自动雷射对焦：

自动寻找光斑

鼠标定位测试点

超大样品腔设计

测试口安全防护

XRF-2020测厚仪X-RAY膜厚测试仪原理功能应用：

测量各类五金电镀,电子连接器端子等。

可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。

广泛，适应电镀生产企业，产品来料检测等。