XRF-2000电镀测厚仪原理：

　　被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其*的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。

　　由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量或厚度。

 

　　XRF-2000电镀测厚仪的作用：

　　可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等，不限底材；

　　如单镀层铜上镀银，铜上镀镍，铜上镀锌，铜上镀锡，铁上镀镍等；

　　多镀层如：ABS上镀铜镀镍镀铬，铁上镀铜镀镍镀金等，不限底材；

　　双镀层如铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍，铜上镀镍镀银等，不限底材；

　　合金镀层如：铁上镀锌镍等，不限底材。

 

　　对于PCB生产企业来说，厚度的有效控制能做到有效的节约成本，又能满足客户需求，做到耐氧化、耐磨等。而XRF-2000电镀测厚仪是PCB工业检测电镀厚度的有效手段。