x射线镀层测厚仪是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线，然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加，但不是直线关系；通过标样和软件及算法(算法有FP法和经验系数法)得到一个接近实际对应关系的曲线。
1.磁性涂层测厚法
使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度，如铁上镀铜、锌、铬、金、银等，涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。
2.X射线荧光法
所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试，同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。
3.涡流层层测厚法
可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度，如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度。
x射线镀层测厚仪主要性能特点：
良好的射线屏蔽作用；
高分辨率探头使分析结果更加；
采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
测试口高度敏感性传感器保护。
