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X-RAY电镀膜厚仪原理
发布时间:2020-07-22   点击次数:113次

X-RAY电镀膜厚仪原理

 

X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变

根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。

理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。

XRF-2020镀层测厚仪:


别称:X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、X-RAY膜厚仪、膜厚测试仪

金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。

 

功能:精密测量金属电镀层的厚度。


应用范围:测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。

 

特点:

 

XRF-2020全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

 

功能及应用:

 

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层:

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

 

仪器测量精度:

表层:±5%以内,第二层:±10%以内,第三层:±15%以内

 

XRF-2020镀层测厚仪规格型号如下图

 

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出zhi来的第二次X射线的强度来。

测量镀层等dao金属薄膜的厚度

因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。

同时,测量也可以在10秒到几分钟内完成

深圳市精诚仪器仪表有限公司

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主营产品:X-RAY电镀测厚仪,XRF-2000测厚仪,XRF-2020镀层测厚仪,X射线镀层测厚仪

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