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X-射线膜厚仪使用时注意这些方面
发布时间:2021-03-10   点击次数:95次
  膜厚仪做为一种测量物体厚度的仪器,在很多的行业领域都得到了广泛的应用,尤其是涂层测厚仪,拥有测量精度高,利用探头接触测量方式的优点。
 
  台式的荧光X射线膜厚仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时产生低能量的光子,俗称为二次荧光,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
 
  X-射线膜厚仪的使用注意事项:
 
  1.零点校准
 
  在每次使用膜厚仪之前需要进行光学校准,因为之前的测量参数会影响该次对物体的测量,零点校准可以消除前次测量有参数的影响,能够降低测量的结果的误差,使测量结果更加准确。
 
  2.基体厚度不宜过薄
 
  在使用膜厚仪对物体进行测量时基体不宜过薄,否则会大程度的影响仪器的测量精度,造成数据结果不准确,影响测量过程的正常进行。
 
  3.物体表面粗糙程度
 
  对于被测物体的表面不宜太过粗糙,因为粗糙的表面容易引起探头接触不到,降低了涂层测厚仪的测量精度,造成很大的误差。所以被测物体的表面应该尽量保持光滑,以保证测量结果的准确性。
 
  X-射线膜厚仪不测量这样办:
 
  检查探头是否连接良好,插到位 查看探头插头插针情况。
 
  检查探头线是否有断的地方重点检查探头接插件处(接头处可以旋钮拧开查看)。
 
  探头频繁大量使用,传感器老化或损坏等。
 
  其它主机线路元件故障咨询公司售后服务或返厂检修。
 

X-射线膜厚仪

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