X-RAY膜厚仪标准片主要用于检验电解测厚仪的准确性，该标准片经保护材料研究所检验认证，为电解测厚仪厚度标准检验片，由于产品精度高，均匀性好，在电镀行业中一直作为厚度的统一标准而得到大量的使用。是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB,五金电镀,半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
X-RAY膜厚仪标准片可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是镀层标准片基体材料与试样基材中的主元素相同。
X-RAY膜厚仪标准片标准校正是为了补正每个单位面积的电解量，来校正橡胶测头的电解面积、电解液的效率劣化、定点流装置的变化等。主要还是使用于橡胶测头的电解面积的补正。镀层标准片校正时请使用所购买的附属品标准片Ni/Fe来执行。由于橡胶测头为橡胶制品，因此根据电解液或者电解过程中生成的物质，使用多次后会引起老化现象，使得电解面积产生变化，因此加在每个单位面积上的电流值的变化，也使要电解的时间改变了。通过利用校正来让每个单位面积上通过一定的电流，为此一定要进行和实际镀层一样的标准片（或不一样的标准片）的校正。
