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镀镍测厚仪仪器测试误差出现的原因
发布时间:2022-05-11   点击次数:133次
  镀镍测厚仪仪器特点有以下这些:
  功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法。
  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
  X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。
  镀镍测厚仪测试误差出现的原因:
  零件放置方向不正确:对于平直零件,旋转角度不是问题,因为XRF镀层测厚仪信号不受影响。但是,对于弯曲零件,非常重要的是,将零件的轴与X射线管和探测器的轴向保持一致。这使零件对齐更容易且数据再现性更好,这可以方便X射线束照射在凸形零件顶部或凹形零件底部,而不是侧壁上。与前述聚焦的情况类似,错位测量也会改变X射线管-样品-探测器间的距离。在不好的情况下,零件未对齐可能会使所有XRF镀层测厚仪信号无法到达探测器。
  测量结果超出校准范围:镀层厚度或成分与强度之间的关系在小范围内是线性关系,但在较大范围内可能是曲线关系。因此,校准曲线被优化,在有限的厚度和成分范围内工作,而不是覆盖整个分析范围。该优化范围由回归设置及创建校准曲线时使用的标样决定。用户可与XRF镀层测厚仪制造商合作,了解校准曲线范围,如果测量结果超出该范围,则在用户的软件中设置警告。
 

镀镍测厚仪

 

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