功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法。

　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

　　X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。

　　镀镍测厚仪测试误差出现的原因：

　　零件放置方向不正确：对于平直零件，旋转角度不是问题，因为XRF镀层测厚仪信号不受影响。但是，对于弯曲零件，非常重要的是，将零件的轴与X射线管和探测器的轴向保持一致。这使零件对齐更容易且数据再现性更好，这可以方便X射线束照射在凸形零件顶部或凹形零件底部，而不是侧壁上。与前述聚焦的情况类似，错位测量也会改变X射线管-样品-探测器间的距离。在不好的情况下，零件未对齐可能会使所有XRF镀层测厚仪信号无法到达探测器。

　　测量结果超出校准范围：镀层厚度或成分与强度之间的关系在小范围内是线性关系，但在较大范围内可能是曲线关系。因此，校准曲线被优化，在有限的厚度和成分范围内工作，而不是覆盖整个分析范围。该优化范围由回归设置及创建校准曲线时使用的标样决定。用户可与XRF镀层测厚仪制造商合作，了解校准曲线范围，如果测量结果超出该范围，则在用户的软件中设置警告。