X荧光镀层测厚仪应用领域和性能特点如下：

　　应用领域：

　　黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

　　性能特点：

　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。

　　高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。

　　定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。采用高度定位激光，可自动定位测试高度。

　　高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用。

　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。

　　测试口高度敏感性传感器保护。

　　X荧光镀层测厚仪标准块的选择：

　　可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。