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韩国先锋膜厚仪适用于各种薄膜材料的测量
更新时间:2023-03-21   点击次数:413次
  韩国先锋膜厚仪是一种用于测试薄膜厚度的仪器,可用于多种材料的测试,如金属、聚合物、玻璃、陶瓷等。广泛用于电子、光电子、半导体、新材料等领域的薄膜厚度测量。
  具体工作原理如下:
  1.发射激光束:先锋膜厚仪发射激光束,这束激光经过透镜聚焦后,形成一个极小的激光点。
  2.激光点扫描:激光点以一定的速度在测量目标表面上扫描,这个速度一般为100-500Hz。
  3.干涉现象:扫描过程中,激光束在目标表面上发生反射和折射,折射的激光经过透镜聚焦后与反射激光相遇,形成一种干涉现象。
  4.接收反射光:接收器接收反射光,并将其信号传递给计算机。
  5.计算结果:根据接收到的信号,计算机可以计算出测量目标表面的高度和厚度。
  韩国先锋膜厚仪性能特点:
  1.测量精度高,可达到纳米级。
  2.操作简单,读取方便,可在数秒钟内完成纳米级薄膜厚度测量。
  3.具有快速测试速度,适用于大批量测试。
  4.适用于各种薄膜材料的测量。
  5.具有巨大的应用潜力,如在机械工程、材料科学、纳米科技等领域都有着广泛的应用。
  韩国先锋膜厚仪操作流程:
  1.将待测样品放置在先锋膜厚仪测试台上,逐一对每个样品进行测量。
  2.使用仪器自带的控制器或电脑,选定测试参数,如测试波长、测量区域等。
  3.启动先锋膜厚仪,仪器会自动发出激光光束,照射在样品表面。
  4.仪器通过检测激光反射信号的相位变化,计算出薄膜的厚度。
  5.读取仪器显示屏上的薄膜厚度数值,记录并处理数据。
  6.重复以上步骤对其他样品进行测量。
深圳市精诚仪器仪表有限公司

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