X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：钠米，nm）描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。这些核外电子围绕着原子核按不同轨道运转，它们按不同的能量分布在不同的电子壳层：分布在同一壳层的电子具有相同的能量。

　　当具有高能量的入射（一次）X射线与原子发生碰撞时，会打破原子结构的稳定性。处于低能量电子壳层（如：K层）的电子更容易被激发而从原子中逐放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。仪器通过探测不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性，进行分析计算得到各镀层厚度，这一个过程就是我们所说的X射线镀层测厚仪。
 

　　x射线镀层测厚仪是将X射线照射在样品上的。强度的衰减将主要是由于材料对样品的吸收，以及从样品中反射的第二X射线的强度。测量了涂层等金属膜的厚度。因为有样品和X射线辐照对样品无接触只有45-75w，所以不会造成样品损伤。同时，测量也可以在10到几分钟内完成。

　　X射线镀层测厚仪的特征:

　　1、可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。

　　2、CCD摄像机可以观察和选择小面积测量涂层的厚度，避免直接接触或破坏被测物体。

　　3、拥有镀层厚度测量和成分分析等250多个标准样品。