更新时间:2022-10-25
X-RAY电镀测厚仪原理X射线或粒子射线经物质照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。
X-RAY电镀测厚仪原理X射线或粒子射线经物质照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。
从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。
荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。
产品名称:XRF-2020镀层测厚仪
XRF-2020PCB
X-RAY电镀测厚仪XRF-2020应用:
13761400826
137-61400826