高精度X射线镀层测厚仪

高精度X射线镀层测厚仪

X-RAY膜厚测试仪

微先锋XRF-2020系列

韩国MicroPioneer

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等?合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

韩国微先锋XRF-2020高精度X射线镀层测厚仪规格如下图

X-RAY膜厚测试仪

原产地：韩国

品牌：Micropioneer微先锋

型号：XRF-2020

XRF-2020L型：测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

XRF-2020镀层测厚仪三款机型均为全自动台面，自动雷射对焦。

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器等产品电镀层厚度

可测量镀金,镀银.镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等

可广泛使用于电镀生产企业及成品来料检测

方便更有效控制产品电镀层厚度及品质。