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高精度X射线镀层测厚仪

更新时间:2020-11-10

简要描述:

X-RAY膜厚测试仪
检测电子电镀,金属镀层测厚仪层厚度,
可测镀铜,镀镍.镀锡,镀锌,镀铬,镀银,镀金,镀锌镍合金等,
仪器全自动,自动雷射对焦.
高精度X射线镀层测厚仪

高精度X射线镀层测厚仪

 

X-RAY膜厚测试仪

微先锋XRF-2020系列

韩国MicroPioneer

 

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料

 

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等?合金镀层:

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

 

韩国微先锋XRF-2020高精度X射线镀层测厚仪规格如下图

 

X-RAY膜厚测试仪

 

原产地:韩国

品牌:Micropioneer微先锋

型号:XRF-2020

 

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

XRF-2020镀层测厚仪三款机型均为全自动台面,自动雷射对焦。

 

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器等产品电镀层厚度

可测量镀金,镀银.镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等

可广泛使用于电镀生产企业及成品来料检测

方便更有效控制产品电镀层厚度及品质。

 

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