X射线荧光测厚仪韩国XRF-2020

X射线荧光测厚仪韩国XRF-2020

X射线或粒子射线经物质照射后

由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。

从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析

XRF-2020镀层测厚仪型号如下图

L型：测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

XRF-2020镀层测厚仪

原产地：韩国

品牌：Micropioneer微先锋

型号：XRF-2020

仪器整机原装进口,配置全自动台面，自动雷射对焦,多实现多点自动测量!

适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。

可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。

应用广泛，适应电镀生产企业，产品来料检测等。

XRF-2020测厚仪

仪器特点:

全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量

功能及应用：

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

X-射线测厚仪韩国XRF-2020

测量精度：

表层：±5%以内，第二层：±10%以内，第三层：±15%以内

仪器整机原装进口，配置全自动台面，自动雷射对焦,多实现多点自动测量