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是哪些原因影响了X光镀层测厚仪的可靠性?
发布时间:2020-12-24   点击次数:140次
   像其他仪器一样,X光镀层测厚仪使用从探头通过非铁磁涂层流入铁磁基体的磁通量来测量涂层厚度。也可以测量相应的磁阻来表示涂层厚度。因此,必须影响待测试基板的电磁物理特性和物理尺寸。磁通量和涡流的大小。这影响了测量值的可靠性,下面将介绍以下问题。
  1.边界距离如果探头与被测物体边界、孔眼、腔体等截面的距离小于规定的边界间隙,测量误差将由磁通量不足或涡流载体截面引起。如果此时需要测量涂层厚度,则只能在相同条件下,在未涂层表面上预先校准来测量。
  2.将基板表面曲率校准到直线对比样品上的初始值,然后测量涂层厚度后减去初始值。
  3.基底金属的小厚度基底金属必须具有给定的小厚度,以便探针的电磁场可以完全包含在基底金属中。小厚度与测量设备的性能和金属基底的特性有关。不校正测量值进行测量。对于基底厚度不足的影响,可以采取措施将一块相同的材料紧紧地粘附在基底下面以消除它。如果很难或不可能添加基底,可以通过与已知涂层厚度的样品进行比较来确定与额定值的差异。并在测量中考虑到这一点,相应地修正测量值或参考第2条进行修正。那些可以校准的仪器可以通过调节旋钮或按钮获得准确的直读厚度值。相反如上所述通过利用过小厚度的影响,可以开发用于直接测量铜箔厚度的测厚仪。
  4.表面粗糙度和表面清洁度为了获得粗糙表面的代表性平均测量值,需要进行多次测量。显然,基底或涂层越粗糙,测量的可靠性就越差。为了获得可靠的数据,基底的平均粗糙度Ra应小于涂层厚度的5%。应清除表面杂质。一些工具有上限和下限来消除这些飞点。
  5.涂层材料中的铁磁和导电成分涂层中某些铁磁成分(如颜料)的存在会影响测量值。在这种情况下,用于校准的对比样品涂层应具有与测试对象涂层相同的电磁特性,并应在校准后使用。所使用的方法可以是在铝板或铜板样品上涂覆相同的涂层,并在涡流试验后获得对比标准样品。

X光镀层测厚仪

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