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X射线镀层测厚仪测量速度快,稳定性高
发布时间:2022-12-16   点击次数:53次
  X射线镀层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器,测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。其结构简单实用,在底盘上端一侧固定连接检测箱,底盘上端滑动连接移动平台,检测箱内上端固定连接X光射线管,检测箱上端一侧固定连接OCD相机,检测箱靠近X光射线管下端固定连接准直器,检测箱内一侧固定连接检测器,检测箱上一侧固定连接若干控制键,检测箱上靠近控制键一侧设有拉把。
  X射线镀层测厚仪应用领域:
  测量极微小平面部件和结构,如:印制线路板、接插件或引线框架等。
  测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层。
  分析复杂的多镀层系统。
  全自动测量,如:用于质量控制领域。
  X射线镀层测厚仪仪器优点介绍:
  1.测量速度快,稳定性高。精度高精度,可达到1-2%。
  2.功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法。
  3.X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。
  4.覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
深圳市精诚仪器仪表有限公司

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