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X光镀层测厚仪测量结果受到影响的因素?
发布时间:2022-12-27   点击次数:42次
  X光镀层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器,测量的对 象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等;结构简单实用,在底盘上端一侧固定连接检测箱,底盘上端滑动连接移动平台,检测箱内上端固定连接X光射线管,检测箱上端一侧固定连接OCD相机,检测箱靠近X光射线管下端固定连接准直器,检测箱内一侧固定连接检测器,检测箱上一侧固定连接若干控制键,检测箱上靠近控制键一侧设有拉把。
  X光镀层测厚仪测量受到影响的因素?
  基体金属磁性质:
  磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响,为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
  边缘效应:
  本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
  基体金属电性质:
  基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
  试件的变形:
  测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
  基体金属厚度:
  每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
  曲率:
  试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
深圳市精诚仪器仪表有限公司

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