1.被测物体特性
基体金属性质：基体金属的磁性、电导率等物理性质对测量有影响。例如，磁性法测厚时，基体金属磁性变化会影响测量结果，即使是低碳钢的磁性变化也需考虑，应使用与试件金属具有相同性质的标准片校准仪器；电涡流测厚仪则受基体金属电导率影响，而电导率与材料成分及热处理方法有关，同样需要用相同性质的标准片校准。
基体金属厚度：每种涂层测厚仪都有基体金属的临界厚度，大于该厚度测量不受基体厚度影响，但小于临界厚度时，测量结果可能会因基体厚度的变化而产生偏差。
表面粗糙度：基体金属和覆盖层的表面粗糙程度越大，对测量结果的影响越明显。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，导致测量不准确、重复性差。因此，在测量前需对表面进行适当处理，如打磨、抛光等，以减小粗糙度对测量的影响。
曲率半径：对于弯曲表面的测量，曲率半径越小，测量误差越大。因为常用的探头表面为平面，与曲面接触时声强透射率低、耦合不好，尤其是在小管径测厚时更为明显。
边缘效应：涂层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感，在靠近试件边缘或内转角处测量不可靠，这些部位的测量结果通常会比实际值偏大或偏小。
内部缺陷：当材料内部存在夹杂、夹层等缺陷时，超声波在其中穿过时会产生严重的散射衰减，可能导致回波湮没，造成测量结果不显示或显示值与实际厚度不符。
2.仪器相关因素
探头性能：探头是测厚仪的关键部件，其接触面磨损、老化或污染等都会影响测量精度。长期使用的探头表面粗糙度可能增加，导致灵敏度下降，从而使测量结果不准确。因此，要定期检查和更换探头。
校准准确性：仪器若未经过正确校准或校准过期，会导致测量结果出现偏差。校准时应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片或待涂覆试件进行校准，以确保测量的准确性。
设备故障：仪器本身的电子元件故障、软件问题等也可能导致测量结果异常。例如，信号处理电路故障可能使测量信号无法准确传输和处理，从而影响测量结果的准确性。
3.环境因素
温度：温度变化会引起金属材料的热胀冷缩，从而影响镀层的厚度和仪器的性能。此外，高温环境还可能影响探头的灵敏度和耦合效果，进而影响测量结果的准确性。
湿度：高湿度环境可能导致被测物体表面潮湿，影响探头与被测物体之间的耦合效果，使测量结果不准确。同时，湿度还可能对仪器内部的电子元件造成腐蚀和损坏，影响仪器的正常工作。
外磁场干扰：外部磁场的存在会干扰磁感应型测厚仪的测量，使其测量结果出现偏差。因此，在使用磁感应型测厚仪时，应远离强磁场环境或采取屏蔽措施。
4.金属镀层测厚仪操作因素
测量压力：测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量读数，压力过大或过小都可能导致测量不准确。因此，测量时应保持压力恒定，并按照仪器的操作规范进行操作。
测头取向：测头的放置方式对测量有影响，应使测头与试样表面保持垂直，否则会导致测量结果出现偏差。
附着物质：被测物体表面的附着物质，如灰尘、油污、氧化皮等，会影响探头与被测物体的紧密接触，从而导致测量结果不准确。因此，在测量前需要清理被测物体表面的附着物质。
