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铜上镀银X-RAY膜厚测量仪

更新时间:2024-11-02

简要描述:

铜上镀银X-RAY膜厚测量仪
XRF-2020韩国微先锋测厚仪
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

铜镀银X射线测厚仪:镀银厚度检测范围0.1-50um
韩国Micropioneer微先锋
型号:XRF-2020
仪器功能:
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
韩国MicroPioneer
XRF-2020测试范围
镀金:0.02-6um
镀钯:0.03-6um
镀镍:0.5-30um
镀锡:0.3-50um
镀银:0.1-50um
镀铬:0.5-30um
镀锌:0.5-30um

镀锌镍合金:0.5-30um


可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等?合金镀层:

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

韩国MicroPioneerXRF-2000测厚仪

  
原产地:韩国
品牌:Micropioneer微先锋
型号:XRF-2000已升级为XRF-2020

  


XRF-2000X射线测厚仪
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等,不限底材。
双镀层如铜上镀镍镀金,铁上镀铜镀镍,铜上镀镍镀银等,不限底材
多镀层如:ABS上镀铜镀镍镀铬,铁上镀铜镀镍镀金等,不限底材
合金镀层如:铁上镀锌镍等。不限底材
韩国MicropioneerXRF-2000测厚仪型号:
XRF-2020H型:测量样品高度不超过10cm
XRF-2020L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2020PCB型:测量样品高度不超3cm


铜上镀银X-RAY膜厚测量仪:镀银厚度检测范围0.1-50um

韩国先锋XRF-2000测厚仪三款机型均为全自动台面

自动雷射对焦。

仪器可测单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限底材




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