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铜镀银X射线测厚仪

更新时间:2024-04-25

简要描述:

铜镀银X射线测厚仪、XRF-2020韩国微先锋测厚仪
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

  铜镀银X射线测厚仪:镀银厚度检测范围0.1-50um
  韩国Micropioneer微先锋
  型号:XRF-2020
  仪器功能:
  检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
  韩国MicroPioneer
  XRF-2020测试范围
  镀金:0.03-6um
  镀钯:0.03-6um
  镀镍:0.5-30um
  镀锡:0.3-50um
  镀银:0.1-50um
  镀铬:0.5-30um
  镀锌:0.5-30um

  镀锌镍合金:0.5-30um


  可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度
  单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
  双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
  多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等?合金镀层:
  铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
  韩国MicroPioneerXRF-2000测厚仪
  
  原产地:韩国
  品牌:Micropioneer微先锋
  型号:XRF-2000已升级为XRF-2020

  


  XRF-2000X射线测厚仪
  可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等,不限底材。
  如单镀层铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀锌,铜上镀锡,铁上镀镍等
  双镀层如铜上镀镍镀金,铁上镀铜镀镍,铜上镀镍镀银等,不限底材
  多镀层如:ABS上镀铜镀镍镀铬,铁上镀铜镀镍镀金等,不限底材
  合金镀层如:铁上镀锌镍等。不限底材
  韩国MicropioneerXRF-2000测厚仪型号:
  XRF-2020H型:测量样品高度不超过12cm
  XRF-2020L型:测量样品高度不超过3cm

  XRF-2020PCB型:测量样品高度不超3cm


  铜镀银X射线测厚仪:镀银厚度检测范围0.1-50um
  韩国先锋XRF-2000测厚仪三款机型均为全自动台面,自动雷射对焦。
  仪器可测单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限底材



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