产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > X射线镀层测厚仪 > 镀锡测厚仪 > 铜上镀锡测厚仪X-RAY膜厚仪

铜上镀锡测厚仪X-RAY膜厚仪

更新时间:2024-11-05

简要描述:

铜上镀锡测厚仪X-RAY膜厚仪检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度。

铜上镀锡测厚仪X-RAY膜厚仪:检测范围0.5-50um
一、仪器功能:
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度。
二、铜上镀锡测厚仪测试范围:
(1)镀金:0.02-6um
(2)镀钯:0.03-6um
(3)镀镍:0.5-30um
(4)镀锡:0.3-50um
(5)镀银:0.1-50um
(6)镀铬:0.5-30um
(7)镀锌:0.5-30um
(8)镀锌镍合金:0.5-30u

 

可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度

(1)单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
(2)双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
(3)多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层:
(4)铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
 


韩国MicroPioneerXRF-2000测厚仪

原产地:韩国
品牌:Micropioneer微先锋
型号:XRF-2000已升级为XRF-2020


可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等,不限底材。
(1)如单镀层铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀锌,铜上镀锡,铁上镀镍等
(2)双镀层如铜上镀镍镀金,铁上镀铜镀镍,铜上镀镍镀银等,不限底材
(3)多镀层如:ABS上镀铜镀镍镀铬,铁上镀铜镀镍镀金等,不限底材
(4)合金镀层如:铁上镀锌镍等。不限底材

 
韩国MicropioneerXRF-2000测厚仪型号:
(1)XRF-2020H型:测量样品高度不超过12cm
(2)XRF-2020L型:测量样品高度不超过3cm
(3)XRF-2020PCB型:测量样品高度不超3cm
三款机型均为全自动台面,自动雷射对焦。


铜上镀锡X-RAY膜厚测量仪

1、仪器可测单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限底材;

2、铜上镀锡X射线测厚仪:检测范围0.5-50um。

 

 

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
深圳市精诚仪器仪表有限公司

深圳市精诚仪器仪表有限公司

地址:深圳市龙岗区坂田五和大道北元征科技园C218

©2025 公司版权所有:  备案号:粤ICP备2023129990号  总访问量:131018  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆