产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > X射线镀层测厚仪 > X射线电镀测厚仪 > 东莞X射线镀层测膜厚仪韩国测厚仪XRF

东莞X射线镀层测膜厚仪韩国测厚仪XRF

更新时间:2024-11-04

简要描述:

东莞X射线镀层测膜厚仪韩国测厚仪XRF
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度。
快速无损检测电子电镀层厚度、金属镀层测厚仪原理及功能应用。


东莞X射线镀层测膜厚仪韩国测厚仪XRF


X射线或粒子射线经物质照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。

从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来

而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度

来进行定性和定量分析。


XRF-2020电镀层测厚仪韩国微先锋膜厚仪

功能及应用:


1、通过CCD来观察及选择任意的微小面积以进行镀层厚度的测量;

2、避免直接接触或破坏被测物;

3、全自动台面及自动对焦更能准确测量产品位置;

4、适应于各类五金电镀,电子连接器端子等;

5、检测电子电镀,五金电镀,端子连接器等产品电镀层厚度;

6、可测量镀金,镀银.镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等;

特点参数

1、测量范围:0.02-35um;
2、测量误差:±5%以内;
3、测量时间只需30秒;
4、便可准确知道镀层厚度;
5、全自动台面,自动对焦,操作非常方便简单;
6、仪器整机,配置全自动台面,自动雷射对焦,多实现多点自动测量;

单镀层:Ag/xx合金镀层:ZnNi/xx双镀层:Au/Ni/xx
Ag或SnZnNiAu
底材底材Ni


底材



合金镀层:Sn-Bi/xx三镀层:Au/Pd/Ni/xx化学镀层:Ni-P/xx
Sn-BiAuNi-P
底材Pd底材

Ni

底材






东莞X射线镀层测膜厚仪韩国测厚仪XRF


XRF-2020电镀层测厚仪韩国微先锋膜厚仪

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换


东莞X射线镀层测膜厚仪韩国测厚仪XRF

可测单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等








留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
深圳市精诚仪器仪表有限公司

深圳市精诚仪器仪表有限公司

地址:深圳市龙岗区坂田五和大道北元征科技园C218

©2024 公司版权所有:  备案号:粤ICP备2023129990号  总访问量:106534  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆