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X射线镀层测厚仪标准片X-RAY膜厚仪校正片

更新时间:2024-11-25

简要描述:

微先锋MicroPioneer膜厚仪标准片
可应用各种X射线测厚仪品牌
用于校正测厚仪标准及添加测量曲线
X射线镀层测厚仪标准片X-RAY膜厚仪校正片

先锋X射线测厚仪标准片
通用型:

标准片

可应用各种X射线测厚仪品牌

用于校正镀层测厚仪

标准曲线及添加应用程序

X射线测厚仪标准片:

铜/镍/锌/铬/银/金/钯/锡/锌镍合金等

标准片可订制,均附带标准证书


X射线镀层测厚仪标准片X-RAY膜厚仪校正片


X射线测厚仪在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。

是膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。


以此标准曲线来测量镀层样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

X射线镀层测厚仪标准片X-RAY膜厚仪校正片

铜,镍,铬,锌,金,银,锡,锌镍,钯各种厚度及规格

均可订制各种厚度值

校准片均附校准证书

X射线镀层测厚仪标准片X-RAY膜厚仪校正片

X射线镀层测厚仪标准片X-RAY膜厚仪校正片



微先锋膜厚仪标准片

通用型:适应不同品牌镀层测厚仪校正及测量








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