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膜厚仪标准片X-RAY测厚仪校正片

更新时间:2025-04-17

简要描述:

微先锋MicroP XRF-2020膜厚仪标准片
可应用各种X射线测厚仪品牌
用于校正测厚仪标准及添加测量曲线
膜厚仪标准片X-RAY测厚仪校正片

膜厚仪标准片X-RAY测厚仪校正片

用于校准和检验测厚仪的重要工具。

它具有已知的单位面积质量或厚度的均匀覆盖层。

-般来说,选择测厚仪标准片时需考虑以下因素:

要求:应根据测厚仪的厚度要求和实际测量需要选择具有相应的标准片。

2.覆盖层和基体材料:标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料。然而,对于试样基材为合金成分的情况,有些仪器软件允许标样基材与被测试样基材不同,但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。

3.x射线发射(或吸收)特性:校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的 x射线发射(或吸收)特性。如果厚度由x射线吸收方法或比率方法确定,则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的

膜厚仪标准片X-RAY测厚仪校正片

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X射线镀层测厚仪标准块校正片

MicroP XRF-2020测厚仪标准块

通用型:可应用各种X射线测厚仪品牌

用于校正镀层测厚仪

标准曲线及添加应用程序

铜/镍/锌/铬/银/金/钯/锡/锌镍合金等


膜厚仪标准片X-RAY测厚仪校正片标准片可订制,均附带标准证书












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