X光镀层测厚仪是一种利用X射线穿透材料并激发荧光的原理，通过分析荧光强度来测量镀层厚度的仪器。其检测范围广泛，以下是其可检测的典型范围及应用场景：
1.金属镀层
常见金属：金（Au）、银（Ag）、铜（Cu）、镍（Ni）、铬（Cr）、锡（Sn）、锌（Zn）、铁（Fe）等。
合金镀层：如镍磷合金、锡铋合金等。
多层镀层：可同时测量多层结构，并分别给出每层厚度。
2.非金属镀层
塑料、橡胶、油漆等有机涂层（需配合特定校准）。
部分无机涂层（如陶瓷、玻璃镀层）。
二、X光镀层测厚仪可检测的基材类型
1.金属基材
钢铁、铝合金、铜合金、锌合金、钛合金等。
支持复杂形状基材（如曲面、凹凸面、微小零件），但需注意测试点的有效面积。
2.非金属基材
塑料、橡胶、木材、玻璃等（需选择适合的X射线管电压和校准方法）。
三、厚度检测范围
1.常规范围
最小厚度：通常可检测到0.01微米（10纳米）级别，适用于超薄镀层（如半导体芯片上的镀金层）。
最大厚度：一般可达几十微米至数百微米，具体上限取决于镀层材料和仪器型号。
2.多层镀层分析
可测量最多3~5层的多层结构，每层厚度需在仪器灵敏度范围内。
例如：钢铁基材上的Ni/Cu/Au三层镀层。
四、X光镀层测厚仪元素检测范围
1.原子序数范围
通常可检测原子序数≥3（锂）的元素，但实际检测下限受仪器配置影响。
轻元素（如Al、Mg）：需配备低能量X射线源或真空环境。
重元素（如Au、Pb）：检测灵敏度更高。
2.浓度范围
镀层中元素浓度可检测至ppm（百万分之一）级，适用于微量元素分析。
