X光镀层测厚仪通过发射X射线并检测镀层材料对X射线的吸收或荧光辐射，来精确测定各种金属镀层的厚度。以下是其详细说明：
电镀层：如镀锌、镀铜、镀镍、镀铬、镀锡等。
蒸镀层：如真空蒸镀的铝、金、银等。
离子镀层：如物理气相沉积（PVD）或化学气相沉积（CVD）的镀层。
热喷涂层：如热喷涂锌、铝等。
其他金属镀层：如镀银、镀铂、镀钛等。
此外，它还可以测量多层镀层的厚度，例如在铁基板上依次镀铜、镀镍、镀铬的多层结构。
2. X光镀层测厚仪基于以下两种原理之一：
X射线吸收法：
发射X射线穿透镀层和基材，由于不同材料对X射线的吸收率不同，通过检测透过的X射线强度，计算出镀层厚度。
适用于单层或多层镀层的测量。
X射线荧光法（XRF）：
发射X射线激发镀层材料，使其产生荧光X射线，通过分析荧光X射线的波长和强度，确定镀层成分和厚度。
适用于已知镀层材料的成分分析。
3. X光镀层测厚仪主要特点:
无损检测：无需破坏样品，可快速、准确地测量镀层厚度。
高精度：测量精度通常可达±0.1μm至±1μm，具体取决于镀层材料和仪器型号。
多层层测：可同时测量多达5层甚至更多层的厚度（需根据仪器配置）。
广泛适用性：可测量各种金属镀层和非金属镀层（如塑料、橡胶等）。
自动化操作：配备软件自动分析数据，支持批量测量和报告生成。
